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Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy, Gebundene Ausgabe von Ricardo García, Wiley-VCH, 978-3-527-40834-4
Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy, Gebundene Ausgabe Von Ricardo García, Wiley-vch, 978-3-527-40834-4, Seitenanzahl: 193
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Amplitude Modulation of Pulsation Modes in Delta Scuti Stars, Fachbücher von Dominic M. Bowman, Dominic M Bowman
Das Buch "Amplitude Modulation of Pulsation Modes in Delta Scuti Stars" von Dominic M. Bowman bietet eine umfassende Untersuchung der Amplitudenmodulation in Delta Scuti-Sternen, einer der häufigsten Arten von Hauptreihenpulsatoren. Die Arbeit basiert auf einer detaillierten Analyse von 983 Delta Scuti-Sternen, die über einen Zeitraum von vier Jahren mit aussergewöhnlicher photometrischer Präzision durch die Kepler-Weltraummission beobachtet wurden. Diese Dissertation geht auf grundlegende astrophysikalische Fragen ein, darunter die Natur der Amplitudenmodulation und deren Bedeutung für das Verständnis pulsierender Sterne. Die Ergebnisse dieser Studie sind von grosser Bedeutung, da sie die astrophysikalische Relevanz der beobachteten Modulationen bestätigen und neue Erkenntnisse über die Mechanismen hinter den pulsierenden Sternen liefern. Die Kombination aus revolutionären Daten und tiefgehender Analyse macht dieses Werk zu einer wichtigen Referenz für zukünftige Forschungen in der Asteroseismologie und der Stellarphysik.
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Springer Amplitude Modulation of Pulsation Modes in Delta Scuti Stars (Englisch, Softcover, Dominic M Bowman, Dominic M. Bowman) (56051597)Springer Amplitude Modulation of Pulsation Modes in Delta Scuti Stars (Englisch, Softcover, Dominic M Bowman, Dominic M. Bowman) (56051597)106,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Bert VoigtländerDas Buch "Atomic Force Microscopy" von Bert Voigtländer bietet eine umfassende Einführung in die Betriebsprinzipien der Rasterkraftmikroskopie. Es zielt darauf ab, den Leser in die Lage zu versetzen, ein Rastersondenmikroskop erfolgreich zu bedienen und die gewonnenen Daten zu verstehen. Diese überarbeitete und erweiterte zweite Auflage des vorherigen Werkes "Scanning Probe Microscopy" stellt eine bedeutende Erweiterung des Kapitels zur Rasterkraftmikroskopie dar. Das Buch behandelt sowohl grundlegende als auch wichtige technische Aspekte der Rasterkraftmikroskopie und legt den Fokus auf die Prinzipien der Methoden, die auf eine didaktische und leicht verständliche Weise präsentiert werden. Es richtet sich in erster Linie an Studierende der Physik, Materialwissenschaften, Chemie, Nanowissenschaften und Ingenieurwissenschaften, ist jedoch auch für Fachleute und Neueinsteiger in diesem Bereich von Nutzen und dient als ideales Nachschlagewerk in jedem Labor für Rasterkraftmikroskopie.181,89 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Ahmed TouhamiDas Buch "Atomic Force Microscopy" von Ahmed Touhami bietet eine umfassende Analyse der Fortschritte in der Rasterkraftmikroskopie (AFM) und deren Anwendung in der Mikrobiologie. In den letzten zwei Jahrzehnten hat AFM eine entscheidende Rolle bei der Untersuchung der Strukturen und Dynamiken mikrobieller Oberflächen auf nanometrischer Ebene gespielt. Das Werk beleuchtet die kontinuierlichen Innovationen in AFM-basierten Methoden und deren Kombination mit modernen optischen Techniken wie der konfokalen Fluoreszenzmikroskopie und der Raman-Spektroskopie. Diese Synergien ermöglichen eine tiefere Einsicht in mikrobiologische Prozesse auf Einzelzellebene und erweitern die Möglichkeiten zur multiparametrischen und multifunktionalen Charakterisierung von Bakterienoberflächen. Das Buch enthält zahlreiche Beispiele, die die Echtzeit-Bildgebung der nanoskaligen Organisation von Zellwänden, die Quantifizierung chemischer Heterogenitäten und die Analyse der nanomechanischen Eigenschaften lebender Bakterien umfassen. Die vorgestellten Methoden und Techniken sind von grosser Bedeutung für die zukünftige Forschung in der Mikrobiologie.56,70 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy, Gebundene Ausgabe von Ricardo García, Wiley-VCH, 978-3-527-40834-4Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy, Gebundene Ausgabe Von Ricardo García, Wiley-vch, 978-3-527-40834-4, Seitenanzahl: 193163,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Amplitude Modulation of Pulsation Modes in Delta Scuti Stars, Fachbücher von Dominic M. Bowman, Dominic M BowmanDas Buch "Amplitude Modulation of Pulsation Modes in Delta Scuti Stars" von Dominic M. Bowman bietet eine umfassende Untersuchung der Amplitudenmodulation in Delta Scuti-Sternen, einer der häufigsten Arten von Hauptreihenpulsatoren. Die Arbeit basiert auf einer detaillierten Analyse von 983 Delta Scuti-Sternen, die über einen Zeitraum von vier Jahren mit aussergewöhnlicher photometrischer Präzision durch die Kepler-Weltraummission beobachtet wurden. Diese Dissertation geht auf grundlegende astrophysikalische Fragen ein, darunter die Natur der Amplitudenmodulation und deren Bedeutung für das Verständnis pulsierender Sterne. Die Ergebnisse dieser Studie sind von grosser Bedeutung, da sie die astrophysikalische Relevanz der beobachteten Modulationen bestätigen und neue Erkenntnisse über die Mechanismen hinter den pulsierenden Sternen liefern. Die Kombination aus revolutionären Daten und tiefgehender Analyse macht dieses Werk zu einer wichtigen Referenz für zukünftige Forschungen in der Asteroseismologie und der Stellarphysik.106,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Amplitude Modulation of Pulsation Modes in Delta Scuti Stars (Englisch, Softcover, Dominic M Bowman, Dominic M. Bowman) (56051597)Springer Amplitude Modulation of Pulsation Modes in Delta Scuti Stars (Englisch, Softcover, Dominic M Bowman, Dominic M. Bowman) (56051597)106,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Bert VoigtländerDas Buch "Atomic Force Microscopy" von Bert Voigtländer bietet eine umfassende Einführung in die Betriebsprinzipien der Rasterkraftmikroskopie. Es zielt darauf ab, den Leser in die Lage zu versetzen, ein Rastersondenmikroskop erfolgreich zu bedienen und die gewonnenen Daten zu verstehen. Diese überarbeitete und erweiterte zweite Auflage des vorherigen Werkes "Scanning Probe Microscopy" stellt eine bedeutende Erweiterung des Kapitels zur Rasterkraftmikroskopie dar. Das Buch behandelt sowohl grundlegende als auch wichtige technische Aspekte der Rasterkraftmikroskopie und legt den Fokus auf die Prinzipien der Methoden, die auf eine didaktische und leicht verständliche Weise präsentiert werden. Es richtet sich in erster Linie an Studierende der Physik, Materialwissenschaften, Chemie, Nanowissenschaften und Ingenieurwissenschaften, ist jedoch auch für Fachleute und Neueinsteiger in diesem Bereich von Nutzen und dient als ideales Nachschlagewerk in jedem Labor für Rasterkraftmikroskopie.181,89 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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